A Fonte de íons MCSNICS (1) (Multicathode Source of Negative Ions by Cesium Sputtering) adquirida da NEC, pode produzir feixes de íons ou moléculas negativos de praticamente todos os elementos químicos excetuando os gases raros. A geração do feixe é feita pelo bombardeamento por íons de Cs e subsequente sputtering de uma pequena quantidade de material depositado numa pastilha especial. Podem ser colocadas até 32 pastilhas num carrossel o que possibilita o chaveamento rápido de um feixe para outro sem a interrupção da operação da fonte nem quebra do vácuo. Os feixes gerados nesta fonte têm energia de 5 KeV e são extraídos por um potencial de extração de 20 KV. A energia do feixe depois da extração &eacuite; de 25 KeV. A fonte de íons está montada numa estrutura isolada eletricamente à qual é aplicada uma tensão de -70KV para preacelerar o feixe de maneira a poder injetá-lo no acelerador. Esta preaceleração é feita no tubo de preaceleração (2). A energia do feixe depois desta aceleração é de 95 KeV. A primeira análise do feixe é feita no eletroímã infletor (12). Este ímã deflete o feixe em 90 graus mudando a direção do feixe da horizontal para a vertical. O seu produto massa energia é 20 (massa expressada em unidades de massa atômica e energia em MeV). Este ímã é de focalização simples e, portanto, é necessário um sistema de focalização anterior que focalize o feixe, no plano vertical, nas fendas objeto (11) e no plano horizontal, nas fendas imagem (14) Esta focalização é feita pelo dupleto eletrostático (4). Entre o dupleto eletrostático e as fendas objeto existem pares de defletores eletrostáticos (5) com o objetivo de fazer pequenas correções na direção do feixe e um "chopper" eletrostático (6) que pode produzir pulsos de feixe com duração de alguns microsegundos e intervalo entre pulsos que pode variar entre dezenas de microsegundos e milisegundos. Outros equipamentos existentes no oitavo andar são: bomba turbomolecular (7) com velocidade de 500 l/s; bomba iônica (8) de 1000 l/s, valvulas de isolamento (3), (9) e (15); válvula para arejamento (10); copo de Faraday (16); "beam scanner" (13) e fendas de definição de feixe (17)
