Entendendo medidas de Single Event Effects

 

Título: Entendendo medidas de Single Event Effects
                            Palestrante: Prof. Dr. Nemitala Added

 

O uso de dispositivos eletrônicos cada vez menores, muitas vezes com estruturas internas da ordem de dezenas de nm, tem potencializado a influência de danos ou falhas provocadas pela incidência de radiação ionizante nesses dispositivos. Em especial, o “Single Event Effect” (SEE), pode produzir um dano ou falha relacionado com a interação de um único núcleo com o meio.  Medidas de seção de choque de SEE são usadas em avaliações para minimizar a influência dessas falhas que podem provocar problemas de funcionalidade ou transmissão de dados, pontos especialmente importantes para eletrônicas de controle de satélite, aviões ou mesmo de sistemas de aquisição em laboratórios de física nuclear. No seminário apresentaremos os pontos relevantes para as medidas dessas seções de choque bem como os arranjos e medidas experimentais que estão sendo realizadas no Laboratório Pelletron. Destacamos que o grupo participa de um projeto de pesquisa a nível nacional (CITAR) para desenvolvimento de dispositivos para serem usadas em satélites brasileiros.

 

Data: 01/06/2016

Local: Sala de Seminários DFN (LINAC)

Horário:16H