MATÉRIA DA AGÊNCIA FAPESP
Estudo resolve controvérsia sobre estrutura eletrônica de defeitos em grafeno
03 de janeiro de 2018
Por José Tadeu Arantes | Agência FAPESP
Um estudo conduzido no Instituto de Física da Universidade de São Paulo (IFUSP) resolveu controvérsia que há muito se arrastava na comunidade internacional de pesquisadores dedicada à investigação de defeitos em folhas de grafeno.
A controvérsia dizia respeito ao cálculo da estrutura eletrônica geral do defeito. Essa configuração, que comporta muitas variáveis, era descrita de diferentes maneiras, conforme o pesquisador e o modelo adotado. A solução, igual para todos os modelos e compatível com os dados experimentais, foi obtida pela chilena Ana María Valencia García e sua orientadora de doutorado, Marília Junqueira Caldas, professora titular do IFUSP.
Artigo assinado pelas duas pesquisadoras foi publicado na revista Physical Review B. E os editores da revista escolheram uma das figuras do artigo para integrar a seção Kaleidoscope, que contempla o aspecto estético das imagens publicadas.
A matéria completa pode ser lida no link abaixo:
Término:
31/01/2018
