Metrologia óptica usando modos estruturados da luz
Data de Início:
quinta-feira, 5 Junho, 2025 - 16:00
Palestrante:
Prof. Gabriel Bié (IF UFF)
Local:
Auditório Abrahão de Moraes
A medida de deslocamento de um feixe óptico é essencial para várias aplicações tecnológicas, como microscopia de força atômica, alinhamento de satélites e pinças ópticas. Além disso, é bem sabido que a interferometria óptica oferece grande precisão nas medidas. Desenvolvemos uma técnica interferométrica para medir pequenos deslocamentos angulares e laterais de um feixe óptico, usando os modos espaciais da luz, como os modos de Hermite-Gauss e Laguerre-Gauss. Neste colóquio, discutirei sobre as medidas de precisão com interferometria e como os modos estruturados da luz fornecem ganhos para medidas de deslocamentos.
Sobre o palestrante: Bié possui graduação em Física pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (2008), mestrado em Física pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (2011) e doutorado em Física pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (2015). Atualmente é professor adjunto da Universidade Federal Fluminense. Tem experiência na área de Física, com ênfase em óptica quântica e luz estruturada, atuando principalmente nos seguintes temas: metrologia quântica, luz estruturada, óptica não-linear, oscilador paramétrico óptico.
