A microscopia de força atômica, também conhecida como AFM, é uma microscopia sem lentes: ela envolve, na verdade, diferentes modos de operação para obtenção de imagens e tem se mostrado de grande importância na caracterização de superfícies.

A técnica é muito usada para caracterizar morfologicamente materiais, com precisão em escala micro, nano ou subnano. “Trata-se da técnica de maior precisão em termos de caracterização de estruturas verticais, possibilitando, inclusive, a realização de medidas em ar e em meio líquido, e a obtenção de imagens com resolução superior à das imagens obtidas com técnicas mais conhecidas, como a microscopia eletrônica de varredura”, explica a professora Maria Cecília Salvadori, do Instituto de Física (IF) da USP.

Maria Cecília é a responsável pela disciplina Microscopia de Força Atômica e Tunelamento, que será oferecida na pós-graduação da USP no segundo semestre deste ano.

Alunos regulares da pós-graduação podem se inscrever, pelo sistema Janus, de 3 a 9 de julho. Para quem não é da USP, mas se interessa pelo tema, é possível se candidatar a aluno especial entre os dias 10 e 21 de julho, na Secretaria de Pós-Graduação do IF. Na página também é possível consultar todas as disciplinas oferecidas pelo instituto no segundo semestre, os documentos necessários e demais informações.

Não há custo algum para cursar as aulas. São 12 vagas e o único pré-requisito é ter formação nas áreas de ciências exatas ou biomédicas. Em casos especiais, alunos de graduação poderão também cursar.

Com informações da Assessoria de Comunicação do IF

Mais informações: (11) 3091-6857 / 6625, e-mail mcsalva@if.usp.br