IF/USP oferece curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento
Aulas são gratuitas e os interessados devem se inscrever como alunos especiais; pré-requisito básico é ter formação nas áreas de Exatas ou Biomédicas.
A coordenadora do Laboratório de Filmes Finos do Instituto de Física da USP (IF/USP), professora Maria Cecília Salvadori, oferece a partir de agosto o curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento. O curso é gratuito, tem duração de quatro meses e as aulas acontecem às terças e quartas-feiras, das 10h às 12h. São 12 vagas e o único pré-requisito é ter formação nas áreas de Ciências Exatas ou Biomédicas. O interessado deve se matricular como aluno especial entre os dias 13 e 17 de julho na Secretaria de Pós Graduação do IF (Rua do Matão, 187, Travessa R, Edifício Principal, Ala 2, fone: 11 3091-6901), entre 11h e 11h30 ou entre 14h e 15h.
A microscopia de força atômica (AFM) é uma microscopia que não envolve lentes, e pressupõe diferentes modos de operação para obtenção de imagens. Na AFM de contato, por exemplo, uma sonda interage com a superfície, realizando uma varredura, como um scanner, e gerando ponto a ponto as coordenadas x, y e z. Por meio de um software, a técnica possibilita a reconstrução de uma superfície em 3D, podendo chegar à resolução atômica.
É muito usada para caracterizar morfologicamente materiais, com precisão em escala micro, nano ou subnano. “Trata-se da técnica de maior precisão em termos de caracterização de estruturas verticais, possibilitando inclusive, a realização de medidas em ar e em meio líquido, e a obtenção de imagens com resolução superior à das imagens obtidas com técnicas mais conhecidas, como a microscopia eletrônica de varredura”, explica a professora Salvadori.
Ela diz que a maioria dos interessados pelo curso é composta por estudantes de diversas áreas, como engenharia, física, química, biologia, mas as vagas são abertas também para profissionais que atuam no mercado. No meio profissional, a AFM pode ser usada em diversas áreas. “Na biologia, é muito útil para caracterizar células, inclusive conseguimos uma imagem incrível de uma célula no momento da divisão; na seara da química, para caracterizar nanopartículas, espalhadas em superfícies lisas como silício, vidro ou mica; na área da engenharia, para caracterização de compósitos: polímeros misturados a aditivos como argila, por exemplo. Neste caso, é possível verificar como esses materiais estão distribuídos na superfície por meio das propriedades mecânicas dessa superfície”, exemplifica a professora.
As seis primeiras semanas do curso são compostas por aulas expositivas e experimentais quanto de demonstrativas, estas últimas no laboratório. Depois de seis semanas, quando os participantes já estão familiarizados com a AFM, inicia-se a fase de discussão de projetos. Cada um propõe um projeto, que será desenvolvido durante quatro horas de curso. “Enquanto um aluno está realizando a caracterização da amostra que trouxe, os outros assistem; isso possibilita uma vivência muito rica, com discussões em cima de casos reais”, afirma.
Ao final do curso, os participantes estarão aptos a interpretar corretamente imagens obtidas nessas técnicas, em diversos modos de operação; avaliar a adequação das técnicas para caracterização de amostras e, propriamente, fazer uso das técnicas, levando em conta que o Laboratório de Filmes Finos presta serviços oferecendo esse tipo de caracterização para diversos usuários.
