O Instituto de Física (IF) da USP oferecerá, entre os meses de março e junho, o curso Microscopia de Força Atômica e Tunelamento.
O curso é oferecido pelo Programa de Pós-Graduação do IFUSP, mas é aberto para qualquer pessoa, de dentro ou de fora da USP, que tenha uma graduação nas áreas de exatas ou biomédicas ou esteja cursando o 3º ou 4º ano de Graduação nessas áreas. A carga horária horária é de 2h de aulas teóricas somadas a 2h de aulas de laboratório por semana.
Ao todo, são oferecidas 12 vagas. Os alunos da USP devem se matricular como aluno regular entre 18 e 31 de janeiro pelo sistema Janus. Aos alunos especiais estão reservadas as datas entre os dias 1 e 5 de fevereiro para a realização da matrícula na secretaria de Pós-Graduação do IFUSP.
A microscopia de força atômica (AFM) é uma microscopia que não envolve lentes, e pressupõe diferentes modos de operação para obtenção de imagens. Na AFM de contato, por exemplo, uma sonda interage com a superfície, realizando uma varredura, como um scanner, e gerando ponto a ponto as coordenadas x, y e z. Por meio de um software, a técnica possibilita a reconstrução de uma superfície em 3D, podendo chegar à resolução atômica. É muito usada para caracterizar morfologicamente materiais, com precisão em escala micro, nano ou subnano.
Ao final do curso, os participantes estarão aptos a interpretar corretamente imagens obtidas nessas técnicas, em diversos modos de operação; avaliar a adequação das técnicas para caracterização de amostras e, propriamente, fazer uso das técnicas, levando em conta que o Laboratório de Filmes Finos presta serviços oferecendo esse tipo de caracterização para diversos usuários.
Informações sobre as matrículas podem ser obtidas na Secretaria do Programa de Pós-Graduação:
Pós-Graduação - IFUSP
Rua do Matão, nº 1371
CEP: 05508-090 - Cidade Universitária, São Paulo - Brasil
Fone: +55 11 3091-6901 - Fax: +55 11 3091-6700
E-mail: cpgusp@if.usp.br
Horário de Atendimento no Balcão:
Segunda a sexta, das 11h00 às 11h30 e das 14h00 às 15h00
