Técnica de remoção de impurezas inutiliza nanofios de cobre, mas gera óxido de cobre, material empregado em componentes eletrônicos
Por: Jornal da USP. Acesse aqui a matéria original.
Uma pesquisa sobre a degradação de nanofios de cobre empregados em dispositivos eletrônicos, com participação da Escola Politécnica (Poli) da USP, teve resultados surpreendentes. Os pesquisadores analisaram o material depois de ter passado por uma câmara de vácuo para remoção de impurezas e descobriram que a presença residual de oxigênio provoca a oxidação dos nanofios, tornando-os inutilizáveis. Saiba mais...
Imagem: Cedida pelos pesquisadores
