Caracterizando Nanosistemas Utilizando Métodos de Espalhamento

Data de Início: 
quinta-feira, 1 Junho, 2017 - 16:00
Palestrante: 
Prof. Cristiano Luis Pinto de Oliveira - IFUSP
Local: 
Auditório Abrahão de Moraes

PALAVRAS-CHAVES: Raios X, SAXS, nanopartículas

Para a investigação da estrutura da matéria, diversos métodos experimentais podem ser utilizados. Dentre um número muito grande de técnicas, os métodos de espalhamento e difração de radiação, particularmente luz visível e raios X, bem como espalhamento de nêutrons, são amplamente utilizados. Além das dificuldades de realização deste tipo de experimentos, existem dificuldades iguais ou maiores na correta análise e interpretação dos resultados. Nesta palestra, diversas metodologias de análise e modelagem serão apresentadas com aplicações em variados sistemas, como por exemplo nanopartículas, proteínas, vesículas, micelas, entre diversos outros casos.

INFORMAÇÕES SOBRE O PALESTRANTE

O Prof. Cristiano fez o bacharelado (1998), o mestrado (2001), a licenciatura (2004), e o doutorado (2005) em Física na Universidade Estadual de Campinas. Fez um pós-doutorado no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (2005-2006) e outro no Departamento de Química da Universidade de Aarhus (2006-2009), na Dinamarca, onde atuou também como Professor Assistente em 2009. Desde 2010 é professor no Departamento de Física Experimental do Instituto de Física da Universidade de São Paulo, e obteve o título de Livre-Docente em 2015. 

Tem experiência na área de Física, matéria mole, matéria condensada e biofísica, atuando principalmente nos temas SAXS, difração, modelagem, polímeros, proteínas, DNA/RNA, surfactantes e raios X.

TRANSMISSÃO - http://www.iptv.usp.br/portal/video.action?idItem=36949

 

 

 

Anexos: 

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